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Wiley-Scrivener : Machine Vision Inspection Systems

Wiley-Scrivener Machine Vision Inspection Systems Eliminar filtros
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No ficción 4 Informática
Fecha de publicación 0 Últimos 7 días 0 Últimos 30 días 0 Año en curso
Fecha de ingreso al catálogo 0 Últimos 7 días 0 Últimos 30 días 0 Año en curso
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Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
de Muthukumaran Malarvel (Editor), Soumya Ranjan Nayak (Editor), Prasant Kumar Pattnaik (Editor), Surya Narayan Panda (Editor)

Editor: Wiley-Scrivener

Publication: 13 de enero de 2021

No ficción Informática
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Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
de Muthukumaran Malarvel (Editor), Soumya Ranjan Nayak (Editor), Surya Narayan Panda (Editor), Prasant Kumar Pattnaik (Editor), Nittaya Muangnak (Editor)

Editor: Wiley-Scrivener

Publication: 31 de mayo de 2020

No ficción Informática
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Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
de Muthukumaran Malarvel (Editor), Soumya Ranjan Nayak (Editor), Surya Narayan Panda (Editor), Prasant Kumar Pattnaik (Editor), Nittaya Muangnak (Editor)

Editor: Wiley-Scrivener

Publication: 21 de mayo de 2020

No ficción Informática
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Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
de Muthukumaran Malarvel (Editor), Soumya Ranjan Nayak (Editor), Prasant Kumar Pattnaik (Editor), Surya Narayan Panda (Editor)

Editor: Wiley-Scrivener

Publication: 15 de enero de 2021

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